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日本chino光學(xué)干涉涂層測厚儀 IRMS8599S
日本chino光學(xué)干涉涂層測厚儀 IRMS8599S IRMS8599將光投射到要測量的薄膜上,并測量表面反射光和反射背上反射光引起的干涉厚度。
更新日期:2024-03-24 訪問量:859